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HFA135NH40PbF
HEXFRED ?
Ultrafast Soft Recovery Diode,
275 A
V R = 200 V
0.01 Ω
L = 70 μ H
D.U.T.
Vishay High Power Products
dI F /dt
D
adj u st
G
IRFP250
S
Fig. 10 - Reverse Recovery Parameter Test Circuit
(3)
I F
t a
t rr
t b
0
Q rr
(4)
(2)
I RRM
0.5 I RRM
dI (rec)M /dt (5)
0.75 I RRM
(1) dI F /dt
(1) dI F /dt - rate of change of c u rrent
thro u gh zero crossing
(4) Q rr - area u nder c u r v e defined b y t rr
and I RRM
(2) I RRM - peak re v erse reco v ery c u rrent
Q rr =
t rr x I RRM
2
(3) t rr - re v erse reco v ery time meas u red
from zero crossing point of negati v e
going I F to point w here a line passing
(5) dI (rec)M /dt - peak rate of change of
c u rrent d u ring t b portion of t rr
thro u gh 0.75 I RRM and 0.50 I RRM
extrapolated to zero c u rrent.
Fig. 11 - Reverse Recovery Waveform and Definitions
D.U.T.
L = 100 μ H
High-speed
s w itch
I L(PK)
R g = 25 Ω
Free w heel
diode
+
C u rrent
monitor
Document Number: 94050
Revision: 01-Aug-08
V d = 50 V
V (A V AL)
V R(RATED)
Fig. 12 - Avalanche Test Circuit and Waveforms
For technical questions, contact: ind-modules@vishay.com
Decay
time
www.vishay.com
5
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